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      • 高溫高壓蒸煮試驗(yàn)箱

        高溫高壓蒸煮試驗(yàn)箱也叫非飽和高壓加速老化箱,應(yīng)用于電子電器、線路板、化工能源、太陽能、磁性材料等。$nHAST試驗(yàn)箱圓形橫置式內(nèi)槽結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)方便使用者取置待測(cè)物品,可預(yù)防試驗(yàn)中有滴水結(jié)露現(xiàn)象,可避免蒸汽過熱直接沖擊操作人員。

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        更新時(shí)間:2024-03-20
      • 高溫水煮儀

        高溫水煮儀結(jié)構(gòu)形式為立式,試驗(yàn)箱外箱采用SUS304發(fā)紋不銹鋼板,外箱采用SUS304鏡面不銹鋼板,溫度控制器為日本富士數(shù)顯控制器,PT100感應(yīng)器,指針式壓力表,內(nèi)置式儲(chǔ)水箱.該設(shè)備具有超溫、欠相、缺水、壓力、加熱管空燒等保護(hù)裝置。 高溫高壓蒸煮儀,蒸煮老化試驗(yàn)箱滿足標(biāo)準(zhǔn):GB2423-2-1-89\GB2423-3-2-89\GB2423-3-89

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        更新時(shí)間:2024-03-20
      • 釹鐵硼HAST老化試驗(yàn)機(jī)

        釹鐵硼HAST老化試驗(yàn)機(jī)主要是測(cè)試磁性材料封裝之濕氣能力,待測(cè)產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測(cè)試,濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體,常見之故障方式為主動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦罚蚍庋b體引腳間因污染造成短路等。

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        更新時(shí)間:2024-06-22
      • HAST老化試驗(yàn)箱

        HAST老化試驗(yàn)箱也叫非飽和高壓加速老化箱,應(yīng)用于電子電器、線路板、化工能源、太陽能、磁性材料等。 HAST試驗(yàn)箱圓形橫置式內(nèi)槽結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)方便使用者取置待測(cè)物品,可預(yù)防試驗(yàn)中有滴水結(jié)露現(xiàn)象,可避免蒸汽過熱直接沖擊操作人員。

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        更新時(shí)間:2024-06-22
      • 非飽和高壓加速老化試驗(yàn)箱

        非飽和高壓加速老化試驗(yàn)箱也叫非飽和高壓加速老化箱,應(yīng)用于電子電器、線路板、化工能源、太陽能、磁性材料等。 HAST試驗(yàn)箱圓形橫置式內(nèi)槽結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)方便使用者取置待測(cè)物品,可預(yù)防試驗(yàn)中有滴水結(jié)露現(xiàn)象,可避免蒸汽過熱直接沖擊操作人員。

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        更新時(shí)間:2024-06-22
      • 高溫高濕高壓老化箱

        高溫高濕高壓老化箱測(cè)試產(chǎn)品在高溫、高濕及壓力的氣候環(huán)境下的貯存、運(yùn)輸和使用時(shí)的性能試驗(yàn),主要用于對(duì)電工、電子產(chǎn)品,元器件、零部件、金屬材料及其材料在模擬高溫、高濕及壓力的氣候條件下,對(duì)產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)性能進(jìn)行測(cè)試,測(cè)試后,通過檢定來判斷產(chǎn)品的性能是否能夠達(dá)到要求,以便供產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、改進(jìn)、檢定及出廠檢驗(yàn)使用。

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        更新時(shí)間:2024-03-20
      • 高溫高壓試驗(yàn)機(jī)

        高溫高壓試驗(yàn)機(jī)也叫高壓加速老化箱,應(yīng)用于電子電器、線路板、化工能源、太陽能、磁性材料等。PCT高溫高濕試驗(yàn)機(jī)圓形橫置式內(nèi)槽結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)方便使用者取置待測(cè)物品,可預(yù)防試驗(yàn)中有滴水結(jié)露現(xiàn)象,可避免蒸汽過熱直接沖擊操作人員。

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        更新時(shí)間:2024-03-20
      • 光分路器PCT高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)

        光分路器PCT高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)主要是測(cè)試光分路器等光電材料封裝之濕氣能力,待測(cè)產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測(cè)試,濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體,常見之故障方式為主動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦罚蚍庋b體引腳間因污染造成短路等。

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        更新時(shí)間:2024-06-22
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